Inspeksi jeung bungkusan ZW séri las dioda
Métode tés sareng aturan pamariksaan
1. Inspeksi bets per bets (Inspeksi Grup A)
Unggal bets produk kudu inspected nurutkeun Table 1, sarta sakabeh item dina Table 1 nu non-destructive.
meja 1 Inspection per bets
| Grup | PamariksaanBarang | Métode Pamariksaan | Kriteria | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Penampilan | Inspeksi visual (dina kaayaan cahaya sareng visi normal) | Logo jelas, palapis permukaan sareng plating bébas tina peeling sareng karusakan. | 1.5 |
| A2a | Karakteristik listrik | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) dina JB/T 7624—1994 | Polaritasna dibalikkeun:VFM> 10 USL IRRM> 100 USL | 0.65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) dina JB/T 7624—1994 | Wadul kana sarat | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) dina JB/T 7624—1994 | Wadul kana sarat | ||
| Catetan: USL mangrupikeun nilai wates maksimal. | ||||
2. Inspeksi périodik (Inspeksi Grup B sareng Grup C)
Numutkeun kana Tabel 2, produk anu réngsé dina produksi normal kedah dipariksa sahenteuna hiji angkatan Grup B sareng Grup C unggal taun, sareng barang pamariksaan anu ditandaan ku (D) mangrupikeun tés anu ngancurkeun.Lamun inspeksi awal teu minuhan sarat, sampling tambahan bisa ulang inspected nurutkeun Appendix Table A.2, tapi ngan sakali.
Tabél 2 Pamariksaan Périodik (Grup B)
| Grup | PamariksaanBarang | Métode Pamariksaan | Kriteria | Rencana Sampling | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Ngabuburit suhu (D) dituturkeun ku sealing |
| Pangukuran saatos tés:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL henteu bocor | 6 | 1 |
| CRRL | Tétéla sacara singget atribut-atribut anu aya dina unggal kelompok, nyaéta VFM jeung AbdiRRMnilai saméméh jeung sanggeus tés, jeung kacindekan tés. | ||||
3. Inspeksi Idéntifikasi (inspeksi grup D)
Nalika produk parantos réngsé sareng dilebetkeun kana penilaian produksi, salian ti pamariksaan grup A, B, C, tés grup D ogé kedah dilakukeun dumasar kana Tabel 3, sareng barang pamariksaan anu ditandaan ku (D) mangrupikeun tés anu ngancurkeun.Produksi normal produk réngsé kedah diuji sahenteuna hiji angkatan Grup D unggal tilu taun.
Lamun inspeksi awal gagal, sampling tambahan bisa ulang inspected nurutkeun Appendix Table A.2, tapi ngan sakali.
Tabél 3 Uji Idéntifikasi
| No | Grup | PamariksaanBarang | Métode Pamariksaan | Kriteria | Rencana Sampling | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Tés beban siklus termal | waktos siklus: 5000 | Ukur saatos tes:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Shock atanapi geter | 100g: tahan 6ms, gelombang satengah sinus, dua arah 3 sumbu saling jejeg, 3 kali dina unggal arah, total 18 kali.20g: 100 ~ 2000Hz, 2h unggal arah, total 6h. | Ukur saatos tes: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Béré sakeudeung data atribut unggal kelompok, VFM , IRRMjeung AbdiDRMnilai saméméh jeung sanggeus tés, jeung kacindekan tés. | |||||
Nyirian jeung bungkusan
1. Tandaan
1.1 Tanda dina produk ngawengku
1.1.1 Jumlah produk
1.1.2 tanda idéntifikasi Terminal
1.1.3 Ngaran parusahaan atawa mérek dagang
1.1.4 Inspection loba kode idéntifikasi
1.2 Logo dina karton atawa instruksi napel
1.2.1 Modél produk jeung nomer baku
1.2.2 Ngaran parusahaan jeung logo
1.2.3 Tanda tahan cai sareng tahan hujan
1.3 Paket
Syarat bungkusan produk kedah sasuai sareng peraturan domestik atanapi syarat palanggan
1.4 Dokumén produk
Model produk, jumlah standar palaksanaan, syarat kinerja listrik husus, penampilan, jeung sajabana kudu dinyatakeun dina dokumen éta.
Thedioda lasdihasilkeun ku Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor loba dilarapkeun dina welder lalawanan, sedeng jeung frékuénsi luhur las mesin nepi ka 2000Hz atawa saluhureuna.Kalayan tegangan puncak maju ultra-low, résistansi termal ultra-low, kaayaan téknologi pabrik seni, kamampuan substitusi anu saé sareng kinerja stabil pikeun pangguna global, dioda las ti Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor mangrupikeun salah sahiji alat anu paling dipercaya tina kakuatan Cina. produk semikonduktor.